Płytka InSb 2 cale 3 cale niedomieszkowana typu N, typ P, orientacja 111 100 do detektorów podczerwieni

Krótki opis:

Płytki z antymonku indu (InSb) są kluczowymi materiałami stosowanymi w technologiach detekcji podczerwieni ze względu na wąską przerwę energetyczną i wysoką ruchliwość elektronów. Dostępne w średnicach 2 i 3 cali, płytki te oferowane są w wersjach bez domieszek, typu N i typu P. Płytki są produkowane z orientacjami 100 i 111, co zapewnia elastyczność w różnych zastosowaniach detekcji podczerwieni i półprzewodników. Wysoka czułość i niski poziom szumów płytek InSb sprawiają, że idealnie nadają się one do stosowania w detektorach podczerwieni średniej długości fali (MWIR), systemach obrazowania w podczerwieni oraz innych zastosowaniach optoelektronicznych wymagających precyzji i wysokiej wydajności.


Cechy

Cechy

Opcje dopingowe:
1.Bez domieszek:Tego typu płytki nie zawierają żadnych domieszek i są wykorzystywane przede wszystkim w specjalistycznych zastosowaniach, takich jak wzrost epitaksjalny, w którym płytka pełni rolę czystego podłoża.
2.Typ N (domieszkowany Te):Domieszkowanie tellurem (Te) jest wykorzystywane do wytwarzania płytek typu N, charakteryzujących się wysoką ruchliwością elektronów, dzięki czemu nadają się one do stosowania w detektorach podczerwieni, szybkich urządzeniach elektronicznych i innych zastosowaniach wymagających wydajnego przepływu elektronów.
3.Typ P (domieszkowany Ge):Domieszkowanie germanem (Ge) jest stosowane do produkcji płytek typu P, co zapewnia wysoką ruchliwość dziur i doskonałą wydajność w czujnikach podczerwieni i fotodetektorach.

Opcje rozmiaru:
1. Wafle są dostępne w średnicach 2 i 3 cali. Zapewnia to kompatybilność z różnymi procesami produkcji półprzewodników i urządzeniami.
2. Średnica wafla 2-calowego wynosi 50,8 ± 0,3 mm, natomiast średnica wafla 3-calowego wynosi 76,2 ± 0,3 mm.

Orientacja:
1. Płytki są dostępne w orientacjach 100 i 111. Orientacja 100 jest idealna dla szybkich układów elektronicznych i detektorów podczerwieni, natomiast orientacja 111 jest często stosowana w urządzeniach wymagających określonych właściwości elektrycznych lub optycznych.

Jakość powierzchni:
1. Powierzchnie tych płytek są polerowane/trawione, co zapewnia doskonałą jakość i umożliwia optymalną pracę w zastosowaniach wymagających precyzyjnych parametrów optycznych lub elektrycznych.
2. Przygotowanie powierzchni gwarantuje niską gęstość defektów, dzięki czemu płytki te idealnie nadają się do zastosowań w zakresie detekcji podczerwieni, w których spójność działania ma kluczowe znaczenie.

Gotowy na Epi:
1. Te płytki są gotowe do epitaksji, co czyni je odpowiednimi do zastosowań obejmujących wzrost epitaksjalny, w którym na płytce osadzane są dodatkowe warstwy materiału w celu produkcji zaawansowanych półprzewodników lub urządzeń optoelektronicznych.

Aplikacje

1. Detektory podczerwieni:Płytki InSb są szeroko stosowane w produkcji detektorów podczerwieni, szczególnie w zakresie średniej długości fali podczerwieni (MWIR). Są one niezbędne w systemach noktowizyjnych, termowizji i zastosowaniach wojskowych.
2.Systemy obrazowania w podczerwieni:Wysoka czułość płytek InSb umożliwia precyzyjne obrazowanie w podczerwieni w różnych sektorach, w tym w zakresie bezpieczeństwa, nadzoru i badań naukowych.
3.Elektronika dużej prędkości:Ze względu na wysoką ruchliwość elektronów, płytki te są stosowane w zaawansowanych urządzeniach elektronicznych, takich jak szybkie tranzystory i urządzenia optoelektroniczne.
4. Urządzenia studni kwantowej:Płytki InSb idealnie nadają się do zastosowań w studniach kwantowych w laserach, detektorach i innych układach optoelektronicznych.

Parametry produktu

Parametr

2 cale

3-calowy

Średnica 50,8±0,3 mm 76,2±0,3 mm
Grubość 500±5μm 650±5μm
Powierzchnia Polerowane/trawione Polerowane/trawione
Rodzaj dopingu Niedomieszkowane, domieszkowane Te (N), domieszkowane Ge (P) Niedomieszkowane, domieszkowane Te (N), domieszkowane Ge (P)
Orientacja 100, 111 100, 111
Pakiet Pojedynczy Pojedynczy
Epi-Ready Tak Tak

Parametry elektryczne dla domieszkowanego Te (typu N):

  • Ruchliwość: 2000-5000 cm²/V·s
  • Oporność: (1-1000) Ω·cm
  • EPD (gęstość defektów): ≤2000 defektów/cm²

Parametry elektryczne dla domieszkowanego jonami Ge (typu P):

  • Ruchliwość: 4000-8000 cm²/V·s
  • Oporność: (0,5-5) Ω·cm

EPD (gęstość defektów): ≤2000 defektów/cm²

Pytania i odpowiedzi (najczęściej zadawane pytania)

P1: Jaki rodzaj domieszki jest idealny do zastosowań w detekcji podczerwieni?

A1:Domieszkowany Te (typ N)Wafle są zazwyczaj idealnym wyborem do zastosowań w zakresie detekcji podczerwieni, ponieważ charakteryzują się wysoką ruchliwością elektronów i doskonałą wydajnością w detektorach podczerwieni o średniej długości fali (MWIR) i systemach obrazowania.

P2: Czy mogę używać tych płytek w szybkich zastosowaniach elektronicznych?

A2: Tak, wafle InSb, szczególnie te zDomieszkowanie typu Ni100 orientacji, doskonale nadają się do szybkich urządzeń elektronicznych, takich jak tranzystory, urządzenia wykorzystujące studnie kwantowe i elementy optoelektroniczne, ze względu na ich wysoką ruchliwość elektronów.

P3: Jakie są różnice pomiędzy orientacjami 100 i 111 dla płytek InSb?

A3: Ten100orientacja jest powszechnie stosowana w przypadku urządzeń wymagających dużej prędkości działania elektroniki, podczas gdy111Orientacja jest często wykorzystywana w konkretnych zastosowaniach wymagających innych charakterystyk elektrycznych lub optycznych, w tym w przypadku niektórych urządzeń optoelektronicznych i czujników.

P4: Jakie znaczenie ma funkcja Epi-Ready dla płytek InSb?

A4: TenEpi-ReadyCecha ta oznacza, że wafel został wstępnie przygotowany do procesów osadzania epitaksjalnego. Jest to kluczowe w zastosowaniach wymagających nanoszenia dodatkowych warstw materiału na wierzch wafla, na przykład w produkcji zaawansowanych urządzeń półprzewodnikowych lub optoelektronicznych.

P5: Jakie są typowe zastosowania płytek InSb w technologii podczerwieni?

A5: Płytki InSb są wykorzystywane głównie w systemach detekcji podczerwieni, obrazowaniu termicznym, systemach noktowizyjnych i innych technologiach wykrywania podczerwieni. Ich wysoka czułość i niski poziom szumów sprawiają, że idealnie nadają się dopodczerwień średniofalowa (MWIR)detektory.

P6: Jak grubość płytki wpływa na jej wydajność?

A6: Grubość wafla ma kluczowe znaczenie dla jego stabilności mechanicznej i właściwości elektrycznych. Cieńsze wafle są często stosowane w bardziej wrażliwych zastosowaniach, gdzie wymagana jest precyzyjna kontrola właściwości materiału, natomiast grubsze wafle zapewniają zwiększoną trwałość w niektórych zastosowaniach przemysłowych.

P7: Jak wybrać odpowiedni rozmiar płytki do danego zastosowania?

A7: Odpowiedni rozmiar płytki zależy od konkretnego projektowanego urządzenia lub systemu. Mniejsze płytki (2-calowe) są często używane do badań i zastosowań na mniejszą skalę, natomiast większe płytki (3-calowe) są zazwyczaj używane do produkcji masowej i większych urządzeń wymagających większej ilości materiału.

Wniosek

Wafle InSb w2 caleI3-calowyrozmiary, znie domieszkowany, Typ N, ITyp PWariacje te są niezwykle cenne w zastosowaniach półprzewodnikowych i optoelektronicznych, szczególnie w systemach detekcji podczerwieni.100I111Orientacje zapewniają elastyczność w zakresie różnorodnych potrzeb technologicznych, od szybkiej elektroniki po systemy obrazowania w podczerwieni. Dzięki wyjątkowej ruchliwości elektronów, niskiemu poziomowi szumów i precyzyjnej jakości powierzchni, te wafle idealnie nadają się dodetektory podczerwieni o średniej długości falii innych aplikacji o wysokiej wydajności.

Szczegółowy diagram

Płytka InSb 2 cale 3 cale N lub P typ 02
Płytka InSb 2 cale 3 cale N lub P typ 03
Płytka InSb 2 cale 3 cale N lub P typ 06
Płytka InSb 2 cale 3 cale N lub P typ 08

  • Poprzedni:
  • Następny:

  • Napisz tutaj swoją wiadomość i wyślij ją do nas